SCADUS-UNIMET Testsystem
Das SCADUS-UNIMET Testsystem ist ein universelles Mixed-Signal-Testsystem. Es stellt eine kostengünstige
Lösung für alle Anwendungsbereiche, angefangen von der Entwicklung, Validierung, Charakterisierung, Qualitätssicherung bis zur Produktion, dar. Durch den modularen Aufbau und das flexible Adapter-Konzept kann das Testsystem applikativ, schnell und einfach an spezifische Aufgaben angepasst werden.
Merkmale
- SCADUS-Testsoftware
- Bauelemente, Komponenten Test und Programmierung
- Multisite Test
- Modulare Systemarchitektur
- Fertigungs-Integration
- High Speed Testerinface (PCI)
- Schnittstellen seriell (USB)
- Handler Interface
Technische
Daten
- 4 * V/I Quelle +/- 4..16..52V, +/-2..20..200..500mA, +/-0.1% FSR
- 2 * V Quelle +/- 16V, +/-210mA, +/- 0.04% FSR
- VI Quelle + 51V, +/-0..250..4000mA/10ms, +/-0.5% FSR
- 2 * V Quelle +/- 51V, +0..200..2500mA, +/-0.5% FSR
- I Quelle/Senke +/-2.5uA..250mA, 6 Messbereiche, +/-13V, +/-0.1% FSR
- Leckstrommessung +/-51V, 100nA..190mA, +/-0.2% FSR
- 16 Bit DC Voltmeter, 160mV..82V, 4 Messbereiche, +/-0.006% FSR
- RMS Konverter 70mV..70V, 7 Messbereiche, 10Hz..100kHz, +/-0.5% FSR
- Sinusgenerator 10Hz..100kHz, 4Vef, 11.4Vpeak
- Rampen Generator +/-2.5V..+10V, 1us..1ms, +/-1% FSR
- Timer I & Timer II, 204.75us..65535sec, +/-50ns
- Counter 0.65535ms..65535sec, +/-10ns..+/-1ms
- 1..64 DPin Driver, -2V..8V,
+/-10mA, 20MHz, 12Bit
- 1..64 DPin Sensor, -2V..7V, 20MHz, 14Bit
- 2 M Pattern Memory
- Passive Bauelemente
- Relais
- Spannungsregler
- Optokoppler
-
Dioden, Transistoren, FET, Thyristoren
- ADC, DAC Wandler
- Komparatoren, Operationsverstärker
-
Digitale IC LSI / MSI
- Smart Power, High- und Low Side Schalter
- Statische Speicherbausteine
- Statische und dynamische Speicherbausteine
- Resonatoren, Quarze
- Tetroden, Junction FET
- Hall IC, Hallgeneratoren
Test-Applikationen
- Einzelbauelemente
- ASIC, Hybride
- Geräte-, Baugruppen-, Leiterplatten- und Sensoren Endprüfung
- Motoren Endprüfung